Reduced damage in electron microscopy by using interaction-free measurement and conditional reillumination

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review. A 2019-06, Vol.99 (6), Article 063809
Hauptverfasser:	Agarwal, Akshay, Berggren, Karl K., van Staaden, Yuri J., Goyal, Vivek K.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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