Analysis of noise-induced errors in vector-field electron tomography

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. A, Atomic, molecular, and optical physics Atomic, molecular, and optical physics, 2014-08, Vol.90 (2), Article 023859
Hauptverfasser: Kemp, Z. D. C., Petersen, T. C., Paganin, D. M., Spiers, K. M., Weyland, M., Morgan, M. J.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1050-2947
1094-1622
DOI:10.1103/PhysRevA.90.023859