PM-20In Situ Observation of Electromigration in Nanocontucts via Transmission Electron Microscopy

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy 2017-11, Vol.66 (suppl_1), p.i27-i27
Hauptverfasser:	Suzuki, Yasuchika, Kizuka, Tokushi
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!