B13-P-02New High Resolution FE-SEM Capable of High Speed Analysis and Electron-Energy-Selective Imaging

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microscopy 2015-11, Vol.64 (suppl 1), p.i93.2-i93
Hauptverfasser: Okano, Yasuyuki, Nakajima, Kaori, Kikuchi, Naoki, Suga, Mitsuo, Miyado, Takao, Kobayashi, Takeyuki, Matsumoto, Takahiro, Sekine, Naoki, Nogami, Katsuhiro, Ikeda, Masato, Kojima, Hideo, Nokuo, Takeshi
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2050-5698
2050-5701
DOI:10.1093/jmicro/dfv237