Thickness and temperature dependent thermoelectric properties of Bi 87 Sb 13 nanofilms measured with a novel measurement platform

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Semiconductor science and technology 2018-08, Vol.33 (8), p.85014
Hauptverfasser:	Linseis, V, Völklein, F, Reith, H, Hühne, R, Schnatmann, L, Nielsch, K, Woias, P
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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