Dielectric permittivity of organosilicate glass thin films on a sapphire substrate determined using time-domain THz and Fourier IR spectroscopy

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Veröffentlicht in:	Journal of physics. D, Applied physics Applied physics, 2022-01, Vol.55 (2), p.25303
Hauptverfasser:	Komandin, G A, Nozdrin, V S, Chernomyrdin, N V, Seregin, D S, Vishnevskiy, A S, Kurlov, V N, Vorotilov, K A, Miakonkikh, A V, Lomov, A A, Rudenko, K V, Spektor, I E
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Boson peak broadband dielectric response dielectrics infrared spectroscopy low terahertz spectroscopy
Online-Zugang:	Volltext
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