Electrical reliability, multilevel data storage and mechanical stability of MoS 2 -PMMA nanocomposite-based non-volatile memory device

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of physics. D, Applied physics Applied physics, 2017-07, Vol.50 (26), p.265103
Hauptverfasser: Bhattacharjee, Snigdha, Sarkar, Pranab Kumar, Prajapat, Manoj, Roy, Asim
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0022-3727
1361-6463
DOI:10.1088/1361-6463/aa71e9