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Veröffentlicht in: | Technometrics 1990-02, Vol.32 (1), p.17-18 |
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Hauptverfasser: | , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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Zusammenfassung: | |
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ISSN: | 0040-1706 1537-2723 |
DOI: | 10.1080/00401706.1990.10484585 |