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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Technometrics 1990-02, Vol.32 (1), p.17-18
Hauptverfasser: Woodall, William H., Maragah, Hazem D.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0040-1706
1537-2723
DOI:10.1080/00401706.1990.10484585