Terahertz responsivity and low-frequency noise in biased silicon field-effect transistors

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied physics letters 2013-04, Vol.102 (15), p.153505
Hauptverfasser: Lisauskas, Alvydas, Boppel, Sebastian, Matukas, Jonas, Palenskis, Vilius, Minkevičius, Linas, Valušis, Gintaras, Haring-Bolívar, Peter, Roskos, Hartmut G.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0003-6951
1077-3118
DOI:10.1063/1.4802208