Charge-exchange neutral-atom filling of ion diodes: Its effect on diode performance and A - K shorting

We present a model, supported by experimental evidence, showing how high-density charge-exchange neutral atoms (

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:J. Appl. Phys.; (United States) 1981-04, Vol.52 (4), p.3004-3011
Hauptverfasser: Prono, D. S., Ishizuka, H., Lee, E. P., Stallard, B. W., Turner, W. C.
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:We present a model, supported by experimental evidence, showing how high-density charge-exchange neutral atoms (
ISSN:0021-8979
1089-7550
DOI:10.1063/1.329045