Barrier thickness dependence of the magnetoresistance in TaOx magnetic tunnel junctions

A systematic study has been conducted on the dependence of the magnetoresistance (MR) ratio on the barrier thickness in TaOx-based magnetic tunnel junctions. The relatively low MR ratio (

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of applied physics 2005-04, Vol.97 (8)
Hauptverfasser:	Koller, P. H. P., de Jonge, W. J. M., Coehoorn, R.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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