Femtosecond time-resolved dispersion relation of complex nonlinear refractive index in a semiconductor quantum well
We present simultaneous measurement of femtosecond time-resolved nonlinear phase and amplitude changes around the excitonic resonance of the Al Ga As ∕ Ga As quantum well using polarization-division Sagnac interferometer. The nonlinear complex refractive index of the semiconductor material for all-o...
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Veröffentlicht in: | Applied physics letters 2004-10, Vol.85 (17), p.3678-3680 |
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Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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