Structure and thickness-dependent lattice parameters of ultrathin epitaxial Pr2O3 films on Si(001)

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Applied physics letters 2004-08, Vol.85 (7), p.1229-1231
Hauptverfasser:	Schroeder, T., Lee, T.-L., Zegenhagen, J., Wenger, C., Zaumseil, P., Müssig, H.-J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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