Orientation dependence of ferroelectric properties of pulsed-laser-ablated Bi4−xNdxTi3O12 films

Epitaxial (001)-, (118)-, and (104)-oriented Nd-doped Bi4Ti3O12 films have been grown by pulsed-laser deposition from a Bi4−xNdxTi3O12 (x=0.85) target on SrRuO3 coated single-crystal (100)-, (110)-, and (111)-oriented SrTiO3 substrates, respectively. X-ray diffraction illustrated a unique epitaxial...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Applied physics letters 2003-09, Vol.83 (12), p.2414-2416
Hauptverfasser:	Garg, A., Barber, Z. H., Dawber, M., Scott, J. F., Snedden, A., Lightfoot, P.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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