Determination of optical constants of strained Si1−xGex epitaxial layers in the spectral range 0.75–2.75 eV

Determination of optical constants of strained Si1−xGex epitaxial layers in the spectral range 0.75–2.75 eV

Optical characterization of strained Si1−xGex (0

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied physics letters 1997-09, Vol.71 (11), p.1525-1527
Hauptverfasser: Chen, Weize, Westhoff, Richard, Reif, Rafael
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:Optical characterization of strained Si1−xGex (0
ISSN:0003-6951
1077-3118
DOI:10.1063/1.120423