Direct extraction of the electron tunneling effective mass in ultrathin SiO2

Direct extraction of the electron tunneling effective mass in ultrathin SiO2

Electron transport in ultrathin (tox

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied physics letters 1996-10, Vol.69 (18), p.2728-2730
Hauptverfasser: Brar, B., Wilk, G. D., Seabaugh, A. C.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:Electron transport in ultrathin (tox
ISSN:0003-6951
1077-3118
DOI:10.1063/1.117692