An investigation of systematic errors in interactive EXELFS analysis

Analyzing the fine structure modulations occurring on the high energy side of the ionization edges in atomic spectra, the EXELFS (EXtended Energy-Loss Fine Structure), can provide important structural and chemical information about the local atomic environment. The analysis procedure is, however, so...

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Veröffentlicht in:Microscopy microanalysis microstructures (Les Ulis) 1990-06, Vol.1 (3), p.199-213
Hauptverfasser: Mohammad Amirhamzeh Tafreshi, Bohm, Christian, Csillag, Stefan
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:Analyzing the fine structure modulations occurring on the high energy side of the ionization edges in atomic spectra, the EXELFS (EXtended Energy-Loss Fine Structure), can provide important structural and chemical information about the local atomic environment. The analysis procedure is, however, somewhat complicated. In order to determine systematic errors associated with different parameter choices, we have investigated some sensitive steps in interactive EXELFS analysis. We have also attempted to establish some strategies to minimize these errors. L'analyse des modulations de structure présentes sur la partie haute énergie des seuils d'ionisation en spectroscopie des pertes d'énergie, les structures EXELFS, peut fournir des informations importantes, tant du point de vue structural que clinique, sur l'environnement atomique local. Cette analyse est cependant un peu complexe. Afin de determiner les erreurs systdmatiques associées au choix des différents paramètres, nous avons évalué l'influence de quelques étapes sensibles au cours d'une analyse EXELFS interactive. Nous avons aussi essayé de définir quelques stratégies permettant de minimiser ces erreurs.
ISSN:1154-2799
DOI:10.1051/mmm:0199000103019900