Area scaling analysis of CMOS ADCs

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Electronics letters 2012-03, Vol.48 (6), p.314-315
Hauptverfasser:	VERHELST, M, MURMANN, B
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Circuit properties Design. Technologies. Operation analysis. Testing Electric, optical and optoelectronic circuits Electronic circuits Electronics Exact sciences and technology Integrated circuits Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Signal convertors
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