Electrostatics of JFET at 6 nm channel length: a simulation study

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Electronics letters 2011-07, Vol.47 (15), p.870-871
1. Verfasser: KAPOOR, A. K
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0013-5194
1350-911X
DOI:10.1049/el.2011.1420