Temperature independent current biasing employing TFET

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Electronics letters 2010-05, Vol.46 (11), p.786-787
Hauptverfasser:	GUO, P. F, YANG, Y, SAMUDRA, G, HENG, C. H, YEO, Y. C
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Electronics Exact sciences and technology Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Transistors
Online-Zugang:	Volltext
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