Throughput improvement by reliability-dependent layer allocation in IDM

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Electronics letters 2008-07, Vol.44 (16), p.958-960
Hauptverfasser:	KHAN, A, FRICKE, J. Ch, HOEHER, P. A
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Exact sciences and technology Systems, networks and services of telecommunications Telecommunications Telecommunications and information theory Transmission and modulation (techniques and equipments)
Online-Zugang:	Volltext
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