Mass sensitivity of dual mode SAW delay lines on AlN/sapphire structure

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Electronics letters 2005-10, Vol.41 (22), p.1254-1255
Hauptverfasser: XU, J, HU, G, AUNER, G. W, YING, H
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0013-5194
1350-911X
DOI:10.1049/el:20053193