Random numbers from metastability and thermal noise

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Electronics letters 2005-08, Vol.41 (16), p.891-893
Hauptverfasser:	RANASINGHE, D. C, LIM, D, DEVADAS, S, ABBOTT, D, COLE, P. H
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Applied sciences Design. Technologies. Operation analysis. Testing Electronics Exact sciences and technology Integrated circuits Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!