Behaviour of logic gates fabricated on Si/SiGe MODFET technology

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Electronics letters 2004-06, Vol.40 (12), p.772-774
Hauptverfasser:	Juncu, V.D., Kallfass, I., Sloan, R., Hatfield, J.V.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
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