Characteristic and continuous fluorescence correction for electron probe microanalysis of thin coatings at oblique incidence

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of analytical atomic spectrometry 1996, Vol.11 (11), p.1113-1117
1. Verfasser:	BENHAYOUNE, H
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical chemistry Chemistry Exact sciences and technology Spectrometric and optical methods
Online-Zugang:	Volltext
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