Examination of the structure and melting behaviour of thin film n-alkanes using ultra-soft polarised near-edge X-ray absorption spectroscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of the Chemical Society. Faraday transactions 1996-03, Vol.92 (5), p.783
Hauptverfasser: Hastie, Gerry P., Johnstone, Joy, Roberts, Kevin J., Fischer, Dan
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0956-5000
1364-5455
DOI:10.1039/ft9969200783