Structural, optical, and electronic stability of copper sulfide thin films grown by atomic layer deposition

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Energy & Environmental Science 2013-01, Vol.6 (6), p.1868
Hauptverfasser:	Martinson, Alex B. F., Riha, Shannon C., Thimsen, Elijah, Elam, Jeffrey W., Pellin, Michael J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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