A comparison of elemental analysis techniques requiring no sample preparation: scanning electron microscopy and laser induced breakdown spectroscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of analytical atomic spectrometry 2004-01, Vol.19 (7), p.929
Hauptverfasser: Heuser, Darryl, Walker, Dwight S.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0267-9477
1364-5544
DOI:10.1039/b400801d