Structural characterisations of the NaxSi136 and Na8Si46 silicon clathrates using the Rietveld method

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of materials chemistry 1998-12, Vol.8 (12), p.2839-2844
Hauptverfasser: RENY, E, GRAVEREAU, P, CROS, C, POUCHARDT, M
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0959-9428
1364-5501
DOI:10.1039/a804565h