Characterization of the structural defects in CVD-grown monolayered MoS 2 using near-field photoluminescence imaging

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Nanoscale 2015, Vol.7 (28), p.11909-11914
Hauptverfasser:	Lee, Yongjun, Park, Seki, Kim, Hyun, Han, Gang Hee, Lee, Young Hee, Kim, Jeongyong
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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