On the effect of Au 2+ ion irradiation in an amorphous Fe–Si thin layer synthesized by ion implantation: a high resolution X-ray diffraction study

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:CrystEngComm 2013, Vol.15 (12), p.2251-2259
Hauptverfasser: de Menezes, Alan S., Calligaris, Guilherme A., Lang, Rossano, Santos, Adenilson O. dos, Cardoso, Lisandro P.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1466-8033
1466-8033
DOI:10.1039/C2CE26478A