On the effect of Au 2+ ion irradiation in an amorphous Fe–Si thin layer synthesized by ion implantation: a high resolution X-ray diffraction study
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Veröffentlicht in: | CrystEngComm 2013, Vol.15 (12), p.2251-2259 |
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Hauptverfasser: | , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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ISSN: | 1466-8033 1466-8033 |
DOI: | 10.1039/C2CE26478A |