In situ surface x-ray scattering measurements of electrochemically deposited bismuth on silver(111): structure, compressibility, and comparison with ex situ low-energy electron diffraction measurements

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Langmuir 1991-04, Vol.7 (4), p.796-802
Hauptverfasser:	Toney, Michael F, Gordon, Joseph G, Samant, Mahesh G, Borges, Gary L, Wiesler, David G, Yee, Dennis, Sorensen, Larry B
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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