A Near Edge X-ray Absorption Fine Structure Spectroscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy Study of the Film Properties of Self-Assembled Monolayers of Organosilanes on Oxidized Si(100)

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Langmuir 1995-02, Vol.11 (2), p.512-518
Hauptverfasser: Bierbaum, K, Kinzler, M, Woell, Ch, Grunze, M, Haehner, G, Heid, S, Effenberger, F
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0743-7463
1520-5827
DOI:10.1021/la00002a025