Near-Field Imaging of Surface Plasmons from the Bulk and Surface State of Topological Insulator Bi 2 Te 2 Se

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:ACS photonics 2019-10, Vol.6 (10), p.2492-2498
Hauptverfasser: Venuthurumilli, Prabhu K., Wen, Xiaolei, Iyer, Vasudevan, Chen, Yong P., Xu, Xianfan
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:2330-4022
2330-4022
DOI:10.1021/acsphotonics.9b00814