Line and Point Defects in MoSe 2 Bilayer Studied by Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	ACS nano 2015-06, Vol.9 (6), p.6619-6625
Hauptverfasser:	Liu, Hongjun, Zheng, Hao, Yang, Fang, Jiao, Lu, Chen, Jinglei, Ho, Wingkin, Gao, Chunlei, Jia, Jinfeng, Xie, Maohai
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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