Statistical Assessment of High-Performance Scaled Double-Gate Transistors from Monolayer WS 2

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ACS nano 2022-09, Vol.16 (9), p.14942-14950
Hauptverfasser:	Sun, Zheng, Pang, Chin-Sheng, Wu, Peng, Hung, Terry Y.T., Li, Ming-Yang, Liew, San Lin, Cheng, Chao-Ching, Wang, Han, Wong, H.-S. Philip, Li, Lain-Jong, Radu, Iuliana, Chen, Zhihong, Appenzeller, Joerg
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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