Quantitative Local Conductivity Imaging of Semiconductors Using Near-Field Optical Microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of physical chemistry. C 2022-03, Vol.126 (9), p.4515-4521
Hauptverfasser:	Ritchie, Earl T., Casper, Clayton B., Lee, Taehyun A., Atkin, Joanna M.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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