Exploration, Prediction, and Experimental Verification of Structure and Optoelectronic Properties in I 2 -Eu-IV-X 4 (I = Li, Cu, Ag; IV = Si, Ge, Sn; X = S, Se) Chalcogenide Semiconductors

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Chemistry of materials 2024-01, Vol.36 (1), p.340-357
Hauptverfasser:	Wang, Tianlin, McWhorter, Timothy M., McKeown Wessler, Garrett C., Yao, Yi, Song, Ruyi, Mitzi, David B., Blum, Volker
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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