$Monitoring Amine Intercalation in H 3 Sb 3 P 2 O 14 Thin Films Based on Real-Time X-ray Diffraction Data Analysis$

Monitoring Amine Intercalation in H 3 Sb 3 P 2 O 14 Thin Films Based on Real-Time X-ray Diffraction Data Analysis

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Chemistry of materials 2023-02, Vol.35 (3), p.837-845
Hauptverfasser:	Däntl, Marie, Maschita, Johannes, Wochner, Peter, Jiménez-Solano, Alberto, Vignolo-González, Hugo A., Putzky, Daniel, Dinnebier, Robert E., Bette, Sebastian, Lotsch, Bettina V.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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