Time-of-flight secondary ion mass spectrometry of perfluorinated polyethers

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Veröffentlicht in:Analytical chemistry (Washington) 1990-07, Vol.62 (13), p.1275-1284
Hauptverfasser: Bletsos, Ioannis V, Hercules, David M, VanLeyen, Dieter, Benninghoven, Alfred, Fowler, David
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0003-2700
1520-6882
DOI:10.1021/ac00212a015