$Characterization of thin-layer chromatographically separated fractions by Fourier transform infrared diffuse reflectance spectrometry$

Characterization of thin-layer chromatographically separated fractions by Fourier transform infrared diffuse reflectance spectrometry

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Analytical chemistry (Washington) 1987-02, Vol.59 (3), p.415-418
Hauptverfasser:	Chalmers, John M, Mackenzie, Moray W, Sharp, John L, Ibbett, Roger N
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical chemistry Chemistry Chromatographic methods and physical methods associated with chromatography Exact sciences and technology Other chromatographic methods
Online-Zugang:	Volltext
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