Atomic Scale Investigation of Interfaces in MoS 2 -ReS 2 In-plane Heterostructures Using High Resolution S/TEM

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2021-08, Vol.27 (S1), p.640-641
Hauptverfasser:	Bachu, Saiphaneendra, Stanton, Lauren, Qian, Chenhao, Hickey, Danielle Reifsnyder, Alem, Nasim
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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