20 th Anniversary of Evactron® Plasma Cleaners for SEMs and FIBs

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microscopy and microanalysis 2019-08, Vol.25 (S2), p.550-551
Hauptverfasser: Vane, Ronald, Armbruster, Barbara, Cable, Michael, Kosmowska, Ewa, Safar, George
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1431-9276
1435-8115
DOI:10.1017/S1431927619003489