Low-Dose and In-Painting Methods for (Near) Atomic Resolution STEM Imaging of Metal Organic Frameworks (MOFs)

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2017-07, Vol.23 (S1), p.1804-1805
Hauptverfasser:	Mehdi, B. L., Stevens, A. J., Moeck, P., Dohnalkova, A., Vjunov, A., Fulton, J. L., Camaioni, D. M., Farha, O. K., Hupp, J. T., Gates, B. C., Lercher, J. A., Browning, N. D.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Imaging and Spectroscopy of Beam Sensitive Materials Physical Science Symposia
Online-Zugang:	Volltext
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