Combined EELS and XAS Analysis of the Relationship between Depth Dependence and Valence in LSMO Thin Films

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2017-07, Vol.23 (S1), p.1600-1601
Hauptverfasser:	Fitch, Jim, Trappen, Robbyn, Huang, Chih-Yeh, Zhou, Jinling, Cabrera, Guerau, Dong, Shuai, Kumari, Shalini, Holcomb, Mikel B., LeBeau, James M.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advanced Microscopy and Microanalysis of Complex Oxides Physical Science Symposia
Online-Zugang:	Volltext
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