Going Deeper in Cryo Electron Tomography with Neural Networks

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2017-07, Vol.23 (S1), p.814-815
Hauptverfasser:	Chen, Muyuan, Dai, Wei, Sun, Stella Y., Schmid, Michael F., Chiu, Wah, Ludtke, Steven J.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical and Instrumentation Science Symposia Pushing the Limits of Cryo-TEM: Development and Applications
Online-Zugang:	Volltext
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