Collection of Selected Area Electron Channeling Patterns (SACP) on an FEI Helios NanoLab Scanning Electron Microscope

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2017-07, Vol.23 (S1), p.548-549
Hauptverfasser:	Kerns, R.D., Balachandran, S., Hunter, A.H., Crimp, M.A.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advances in Scanning Electron Microscopy: Transmission Modes and Channeling Effects Analytical and Instrumentation Science Symposia
Online-Zugang:	Volltext
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