A Novel Method for Higher Order Aberration Correction in Electron Microscopes

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2017-07, Vol.23 (S1), p.472-473
Hauptverfasser:	Hoque, Shahedul, Ito, Hiroyuki, Takaoka, Akio, Nishi, Ryuji
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advances and Applications of Aberration-Corrected Electron Microscopy Analytical and Instrumentation Science Symposia
Online-Zugang:	Volltext
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