Atomic Resolution Imaging of YAlO 3 :Ce in the Chromatic and Spherical Aberration Corrected PICO Transmission Electron Microscope

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microscopy and microanalysis 2017-07, Vol.23 (S1), p.422-423
Hauptverfasser: Jin, Lei, Barthel, Juri, Lin Jia, Chun, Urban, Knut W.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1431-9276
1435-8115
DOI:10.1017/S1431927617002793