A Compact High Solid Angle EDX Detector System for SEM and TEM

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2017-07, Vol.23 (S1), p.76-77
Hauptverfasser:	Schoning, A., Lackner, R., Bechteler, A., Liebel, A., Niculae, A., Soltau, H.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical and Instrumentation Science Symposia Vendor Symposium
Online-Zugang:	Volltext
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